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2022年9月 — 今：中科院計(jì)算所，高級(jí)工程師

2011年9月 — 2022年9月：中科院計(jì)算所，工程師

2009年7月 — 2011年9月：中科院計(jì)算所，助理工程師

2006年9月 — 2009年7月：中科院計(jì)算所，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，碩士生

[1] Huina Chao, Huawei Li, Xiaoyu Song, Tiancheng Wang, Xiaowei Li: Evaluating and Constraining Hardware Assertions with Absent Scenarios, Journal of Computing Science and Technology(JCST), 2020, Vol.35, No.5, pp.1198-1216.

[2] Huina Chao, Huawei Li, Xiaoyu Song, Tiancheng Wang, Xiaowei Li: On Evaluating and Constraining Assertions Using Conflicts in Absent Scenarios. Proceedings of IEEE 26th Asian Test Symposium(ATS), 2017: 195-200

[3] 周艷紅，王天成，李華偉，呂濤，李曉維：基于路徑約束求解的多目標(biāo)狀態(tài)激勵(lì)生成方法，計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào)，2016年9期：1829-1842。

[4] 楊爽，王天成，李華偉：一款基于SPARC V8指令集體系結(jié)構(gòu)的系統(tǒng)芯片的功能驗(yàn)證，南通大學(xué)學(xué)報(bào)（自然科學(xué)版），2016年4期：9-16。

[5] 周君，李華偉，王天成，李曉維：面向3維片上網(wǎng)絡(luò)的輕量級(jí)細(xì)粒度容錯(cuò)機(jī)制，計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展，2016年2期：341-353。

[6] Yanhong Zhou, Tiancheng Wang, Huawei Li, Tao Lv, Xiaowei Li: Functional Test Generation for Hard-to-reach States Using Path Constraint Solving, IEEE Transaction on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), 2016, Vol. 35, No.6, pp.999-1011.

[7] Jian Wang, Huawei Li, Tao Lv, Tiancheng Wang, Xiaowei Li, Sandip Kundu: Abstraction-Guided Simulation Using Markov Analysis for Functional Verification, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), 2016, Vol.35, No. 2, pp. 285-297.

[8] Huina Chao, Huawei Li, Tiancheng Wang, Xiaowei Li and Bo Liu: An accurate algorithm for computing mutation coverage in model checking, Proceedings. of IEEE 47th International Test Conference (ITC), 2016, Paper 16.2.

[9] Yingxin Qiu, Huawei Li, Tiancheng Wang, Bo Liu, Yingke Gao, Xiaowei Li: Property Coverage Analysis Based Trustworthiness Verification for Potential Threats from EDA Tools. Proceedings of IEEE 25th Asian Test Symposium(ATS), 2016: 43-48.

[10] Yanhong Zhou, Huawei Li, Tiancheng Wang, Bo Liu, Yingke Gao, Xiaowei Li: Path Constraint Solving based Test Generation for Observability-enhanced Branch Coverage, Proceedings of IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016, Paper 1B-2.

[11] 劉婧，王天成，王健，李華偉：基于指令模板的通用處理器約束隨機(jī)指令生成方法，計(jì)算機(jī)工程，2015年10期：309-313。

[12] Yanhong Zhou, Tiancheng Wang, Tao Lv, Huawei Li, Xiaowei Li: Path Constraint Solving Based Test Generation for Hard-to-Reach States. Proceedings of IEEE 22th Asian Test Symposium(ATS), 2013: 239-244.

[1] 國家自然科學(xué)基金重大項(xiàng)目：專用處理器智能生成，課題骨干

[2] 國家自然科學(xué)基金重點(diǎn)項(xiàng)目：差錯(cuò)容忍計(jì)算器件基礎(chǔ)理論與方法，課題骨干

中科院計(jì)算所優(yōu)秀工程師（2013，2015）

中科院計(jì)算所優(yōu)秀共產(chǎn)黨員（2016、2021）